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潮濕對(duì)電子產(chǎn)品行業(yè)的影響

时间:2024-05-23     

絕大多數(shù)電子產(chǎn)品在生產(chǎn)、作業(yè)與倉(cāng)儲(chǔ)環(huán)節(jié),均適宜在干燥環(huán)境下進(jìn)行。據(jù)相關(guān)統(tǒng)計(jì),全球每年約有超過(guò) 25% 的工業(yè)制造不良品與潮濕危害相關(guān)。在電子工業(yè)領(lǐng)域,潮濕帶來(lái)的品質(zhì)風(fēng)險(xiǎn)已成為影響產(chǎn)品合格率的重要因素之一。
潮濕危害廣泛存在于各行各業(yè),在電子制造環(huán)節(jié)主要體現(xiàn)在以下方面:
  1. 晶元、晶粒等半成品在開(kāi)封狀態(tài)下易受潮,TFT-LCD 玻璃基板在堆疊存放過(guò)程中易出現(xiàn)霉變、受潮問(wèn)題。

  2. 光纖接頭、鍵合金線、引線框架銅材及其他元器件的金屬部位,在高濕環(huán)境下易發(fā)生氧化,影響后續(xù)焊接與導(dǎo)通性能。

  3. PCB 基板在回流焊工序中,因內(nèi)部吸附水汽發(fā)生突發(fā)性排氣,易造成金手指區(qū)域?yàn)R錫,影響外觀與連接可靠性。

  4. IC(QFP/BGA/CSP)等集成電路及各類元器件在存放階段易出現(xiàn)內(nèi)部氧化、短路問(wèn)題;在焊接升溫過(guò)程中,可能出現(xiàn)內(nèi)部微裂、分層脫層、外部爆裂等現(xiàn)象。

  5. 集成電路:潮濕可通過(guò) IC 塑料封裝與引腳縫隙進(jìn)入內(nèi)部,形成吸濕現(xiàn)象。在 SMT 加熱工序中,水汽受熱膨脹產(chǎn)生壓力,可能造成封裝開(kāi)裂、內(nèi)部金屬氧化,進(jìn)而引發(fā)產(chǎn)品故障;在 PCB 焊接過(guò)程中,水汽釋放也會(huì)提高虛焊概率。

    依據(jù)相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),高濕環(huán)境下暴露后的 SMD 元器件,需置于 10% RH 以下的干燥環(huán)境中進(jìn)行相應(yīng)時(shí)長(zhǎng)的干燥處理,以恢復(fù)適用性能,減少報(bào)廢風(fēng)險(xiǎn)。

  6. 液晶器件:液晶顯示屏的玻璃基板、偏光片、濾鏡片在清洗烘干降溫后,仍易受環(huán)境潮氣影響,降低產(chǎn)品良品率。因此烘干后建議存放于 40% RH 以下的干燥環(huán)境中,并配合除濕設(shè)備穩(wěn)定濕度。

  7. 其他電子器件:電容器、陶瓷元件、接插件、開(kāi)關(guān)、焊錫、PCB、晶體、硅晶片、石英振蕩器、SMT 膠、電極粘合劑、電子漿料、高亮度器件等,在高濕環(huán)境下均易受到不良影響。

  8. 工序中電子器件:封裝半成品中轉(zhuǎn)、PCB 封裝前后、未用完的 IC/BGA/PCB 拆封料、待焊接器件、烘烤后回溫器件、未包裝成品等,均易受潮濕影響。

    成品電子整機(jī)在倉(cāng)儲(chǔ)階段,長(zhǎng)期處于高濕環(huán)境也可能引發(fā)故障,如計(jì)算機(jī)板卡、CPU 等金手指氧化,造成接觸不良等問(wèn)題。

綜合來(lái)看,電子工業(yè)產(chǎn)品在生產(chǎn)與存儲(chǔ)環(huán)節(jié),環(huán)境相對(duì)濕度宜控制在 40% 以下,部分精密元器件還需更低濕度環(huán)境,以保障產(chǎn)品品質(zhì)與良率。


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